主要儀器：

信號發(fā)生器、功率放大器、天線(xiàn)、功率計、場(chǎng)強探頭、場(chǎng)強測試與記錄設備等。

試驗布置：

電波暗室、半電波暗室、橫電波傳輸室（如GTEM小室等）。

試驗步驟

1、運用校驗場(chǎng)時(shí)獲得的數據產(chǎn)生試驗場(chǎng)。

2、使受試設備的一面與均勻場(chǎng)平面重合。

3、用1kHz的正弦波對信號進(jìn)行80％的幅度調制后，在80～2700MHz頻率范圍內進(jìn)行掃描測量。掃描步長(cháng)不超過(guò)前一個(gè)頻率的1％。

4、每個(gè)頻率點(diǎn)上的駐留時(shí)間不應短于受試設備操作和反應所需的時(shí)間。

5、改變天線(xiàn)極化方式重新開(kāi)始試驗。

6、受試設備的每個(gè)側面均要進(jìn)行垂直極化和水平極化試驗。

信號源的選擇

信號源主要依據測試頻率范圍等因素來(lái)選擇。針對*新的國際標準本方案里推薦了到6GHz的射頻信號發(fā)生器。

信號源應具有優(yōu)良的相應時(shí)間和穩定度。當在頻率掃描時(shí)能迅速達到穩定輸出狀態(tài)。一則可以節省測試時(shí)間，其次可以減少測試誤差。

當一個(gè)信號源帶動(dòng)多個(gè)功放時(shí)，需在信號源與每個(gè)功放間切換時(shí)將輸出先切換到50歐姆負載上。以避免在切換時(shí)，信號源產(chǎn)生的諧波毛刺直接輸入功放后燒毀功放。

信號源另外值得注意的因素是*小步進(jìn)電壓和*小步進(jìn)頻率。步進(jìn)電壓可以**控制功放的輸出功率。步進(jìn)頻率應能滿(mǎn)足標準要求的*小步進(jìn)頻率要求。小的步進(jìn)頻率有利于**測試EUT的敏感頻點(diǎn)。

信號源在頻率步進(jìn)變化時(shí)，應下降輸出電平，以避免帶來(lái)測量不確定度。

天線(xiàn)的選擇

天線(xiàn)的頻段

30～300MHz范圍內主要選擇雙錐天線(xiàn)。

300～1000MHz范圍主要選擇對數周期天線(xiàn)、對數螺旋天線(xiàn)、喇叭天線(xiàn)等天線(xiàn)。

1GHz以上主要選擇喇叭天線(xiàn)等方向性天線(xiàn)，或者寬帶天線(xiàn)。

對于80MHz－3GHz頻率范圍為了提高效率可以選擇寬帶天線(xiàn)。

天線(xiàn)的天線(xiàn)系數AF

天線(xiàn)的增益越高所需的功放輸出功率就越小。在實(shí)際中應盡量選擇增益高的天線(xiàn)。

天線(xiàn)的駐波比VSWR

駐波比將消耗功放的部分輸出功率，同時(shí)將增加輻射干擾測試（EMI）時(shí)的不確定性。在實(shí)際測試中應盡可能選擇駐波比小的天線(xiàn)并且盡量在天線(xiàn)駐波比較小的頻率范圍內使用。

天線(xiàn)的方向圖

標準中要求1.5m X 1.5m的均勻場(chǎng)應位于發(fā)射天線(xiàn)的主波瓣內。在**標準的RS測試項目中要求被測設備EUT的邊界位于發(fā)射天線(xiàn)的3dB波瓣角內。在對大尺寸的EUT進(jìn)行測試時(shí)，該項參數影響天線(xiàn)的擺放位置和天線(xiàn)位置數。

功放的選擇

天線(xiàn)的輸入功率

G：天線(xiàn)增益（dB）

E：測試需要的場(chǎng)強（V/m）

d ：天線(xiàn)與EUT間的距離（m）

功放與天線(xiàn)間的線(xiàn)損和插入損耗

在上述計算出的天線(xiàn)輸入功率的基礎上要增加：

ü 饋線(xiàn)和接頭的損耗；

ü 定向耦合器的插入損耗；

ü 射頻切換開(kāi)關(guān)的插入損耗；

ü 均勻場(chǎng)的容差；

ü 駐波比和反射功率等因素。

信號調制對功放功率的影響

干擾信號在施加1kHz的正弦調幅信號后，峰值電壓變?yōu)樵瓉?lái)的1.8倍。則功率增加電壓的平方為3.24倍（5.1dB）。

脈沖調制后峰值電壓與未調制時(shí)的電壓一致，同時(shí)電壓的有效值還小于場(chǎng)校準時(shí)的連續波，因此脈沖調制對功放的輸出功率沒(méi)有額外要求。

天線(xiàn)駐波比對功放輸出功率的影響

根據天線(xiàn)實(shí)際使用的頻率范圍內*大的VSWR值對功放的輸出功率進(jìn)行校準。

功放的1dB Compression曲線(xiàn)

根據上述計算出的結果，再根據功放的1dB Compression曲線(xiàn)選擇功放。實(shí)際應用中不應讓功放工作在飽和區內。